Елипсометрия на микро- и наноструктури : Автореферат / Димитър Людмилов Лютов ; Науч. ръководител Стоян Русев.; Ellipsometry of micro- and nanostructures Dimitar Lyudmilov Lyutov
Лютов, Димитър Людмилов; Ljutov, Dimitar Ljudmilov.; Русев, Стоян Христов науч. ръководител
2018 [issued] 2018.
Автореферат на дисертация за придобиване на образователна и науч. степен "Доктор", Проф. направление 4.1 Физ. науки, Спец.: "Електрични, магнитни и оптични свойства на кондензираната материя" СУ "Св. Климент Охридски", Физ. фак., Кат. "Физика на твърдото тяло и микроелектроника" 2018; Библиогр. с. 56-58; Електронно копие София Университетска библиотека "Св. Климент Охридски" 2018
Твърди тела методи на изследване.; Наноелектроника.; Кристалооптика.
*** *** ***
001144923
BG-SoUL
bul
bu
Лютов, Димитър Людмилов
Елипсометрия на микро- и наноструктури :| Автореферат /| Димитър Людмилов Лютов ; Науч. ръководител Стоян Русев.
Ellipsometry of micro- and nanostructures| Dimitar Lyudmilov Lyutov
Характеристика на файл (1 PDF файл : 3.560 MB)
София,| 2018.
59 с. :| с цв. ил., табл., сх. ;| 21 см.
Автореферат на дисертация| за придобиване на образователна и науч. степен "Доктор", Проф. направление 4.1 Физ. науки, Спец.: "Електрични, магнитни и оптични свойства на кондензираната материя"| СУ "Св. Климент Охридски", Физ. фак., Кат. "Физика на твърдото тяло и микроелектроника"| 2018
Библиогр. с. 56-58
Дигиталният обект е предназначен само за лично ползване
Електронно копие| София| Университетска библиотека "Св. Климент Охридски"| 2018
Твърди тела| методи на изследване.| Наноелектроника.| Кристалооптика.
Ljutov, Dimitar Ljudmilov.| Русев, Стоян Христов| науч. ръководител